·6·《测控技术}2002年第21卷第7期
文章编号:1000—8829(2002)07—0006一0,4
微机械薄膜应力的在线测试结构
n.SituTestStructuresofMicromachinedThinFilms
(东南大学微电子中心MEMS教育部重点实验室,江苏南京210096)刘祖韬,黄庆安,姜岩峰
摘要:微机械薄膜应力对MEMS器件有较大的影响,向下偏转,通过光学或表面台阶仪测出弯曲量从而检
因此应力测量对于工艺监控和M
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