CN119961066A 人工智能芯片性能测试方法、装置、电子设备及介质 (航天科工防御技术研究试验中心).pdfVIP

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  • 2026-06-01 发布于重庆
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CN119961066A 人工智能芯片性能测试方法、装置、电子设备及介质 (航天科工防御技术研究试验中心).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119961066A

(43)申请公布日2025.05.09

(21)申请号202411937187.8

(22)申请日2024.12.26

(71)申请人航天科工防御技术研究试验中心

地址100085北京市海淀区永定路50号

(72)发明人孙海晶宇晓彤张祎闫辰飞

(74)专利代理机构北京风雅颂专利代理有限公

司11403

专利代理师王聪聪

(51)Int.Cl.

G06F11/22(2006.01)

G06N5/04(2023.01)

权利要求书2页说明书12页附图5页

(54)发明名称

人工智能芯片

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