CN119631599A 光检测装置、用于制造光检测装置的方法及电子设备 (索尼半导体解决方案公司).docxVIP

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  • 2026-06-01 发布于山西
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CN119631599A 光检测装置、用于制造光检测装置的方法及电子设备 (索尼半导体解决方案公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119631599A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202380056523.5

(22)申请日2023.07.27

(30)优先权数据

2022-1463232022.09.14JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.01.24

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2023/0276452023.07.27

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2024/057739JA2024.03.21

(71)申请人索尼半导体解决方案公司地址日本神奈川县

(72)发明人小玉欣典本多孝好井上俊德

(74)专利代理机构北京信慧永光知识产权代理有限责任公司11290

专利代理师姚鹏陈桂香

(51)Int.Cl.

H10F39/18(2025.01)

H04N25/70(2023.01)

权利要求书3页说明书22页附图28页

(54)发明名称

光检测装置、用于制造光检测装置的方法及

电子设备

(57)摘要

CN119631599A提供一种光检测装置,其具有像素结构,其中片上透镜针对每个像素组形成,并允许减少像素间隔离部的过程数量并减少光散射。光检测装置包括半导体基板、像素隔离部和片上透镜。像素隔离部设置在半导体

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