CN119643955A 测试方法、测试系统及存储介质 （一脉通(深圳)智能科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119643955A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202510172780.6

(22)申请日2025.02.17

(71)申请人一脉通（深圳）智能科技有限公司

地址518000广东省深圳市宝安区新安街

道海滨社区N23区海天路15-3号卓越宝中时代广场二期C栋2001

(72)发明人薛喜柱林本聪刘兵张光力

罗相诚李劲松洪晓城胡剑锋叶浩林麻亚翰

(74)专利代理机构深圳市中科云策知识产权代理有限公司44862

专利代理师石慧

(51)Int.Cl.

G01R21/00(2006.01)

G01R21/14(2006.01)

G06N20/00(2019.01)

G06F18/26(2023.01)

G06N3/0499(2023.01)

G06N3/084(2023.01)

G06N3/082(2023.01)

权利要求书3页说明书13页附图5页

(54)发明名称

测试方法、测试系统及存储介质

(57)摘要

CN119643955A本发明涉及功耗测试技术领域，具体为一种测试方法、测试系统及存储介质。测试方法的步骤包括：获取智能锁在预设时间段内的操作日志；基于操作日志识别智能锁的工作