CN119644119A 电路测试系统、方法及相关设备 （广上科技(广州)股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119644119A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202510077455.1

(22)申请日2025.01.17

(71)申请人广上科技（广州）股份有限公司

地址510730广东省广州市黄埔区保盈南

路17、19号

(72)发明人林建明聂建平

(74)专利代理机构广东超越知识产权代理有限

公司44975

专利代理师陈文福

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R31/52(2020.01)

G01R31/54(2020.01)

权利要求书2页说明书12页附图3页

(54)发明名称

电路测试系统、方法及相关设备

(57)摘要

CN119644119A本申请提供一种电路测试系统、方法及相关设备，本申请提供的测试系统包括测试模具、电子测试设备以及计算设备，可并行测试多个电路参数，对于批量生产的电路板，可以在短时间内完成大量测试，可以按照预设程序运行，测试结果更加精确和稳定，可以配备高精度的测试仪器，可以精确测量微小的电压、电流变化，具备高效和稳定的特性，可以降低测试成本，能够及时发现并剔除有缺陷的电路板，避免不良品流入下一道工序，从而避免不良品流出和返工成本，可以自动记录和存储测试数据，便于后续的数据分析和