CN119644121A 芯片测试方法和芯片测试系统 （南京伟测半导体科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119644121A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202510175678.1

(22)申请日2025.02.18

(71)申请人南京伟测半导体科技有限公司

地址211899江苏省南京市浦口区云实路

19号

(72)发明人张伟军曹凡利刘华祥刘琨

(74)专利代理机构上海领洋专利代理事务所(普通合伙)31292

专利代理师罗晓鹏

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书2页说明书10页附图2页

(54)发明名称

芯片测试方法和芯片测试系统

(57)摘要

CN119644121A本公开提供芯片测试方法、芯片测试系统、芯片测试机、及计算机可读存储介质，所述芯片测试方法是将质量保证测试结合于成品测试中，即，在成品测试模式中对各个待测的芯片逐一进行成品测试，且对通过成品测试的芯片进行计数，直至通过成品测试的计数值满足质量保证测试所要求的抽样频率所对应的设定值时，将成品测试模式转换为质量保证测试模式从先前成品测试模式中通过成品测试的已测的芯片中抽样以进行质量保证测试。相对于相关技术，本公开提供的芯片测试方法，是将成品测试和质量保证测试结合于一体的，通过自动化的方式进行质量保证测试，不需要生产线在完成成品测试之