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《芯片测试中测试向量的产生分析》9400字.docx

《芯片测试中测试向量的产生分析》9400字.docx

    芯片测试中测试向量的产生分析

    目录

    TOC\o1-3\h\u30783芯片测试中测试向量的产生分析 1

    28991.1测试向量产生的原理 1

    247171.1.1测试向量产生工具 1

    248191.1.2EDA工具产生测试向量的原理 1

    74761.2模块级的ATPG 6

    140811.3顶层级ATPG 8

    105201.3.1顶层选取所要测试的模块的原理 8

    211971.3.2测试协议的准备 9

    231551.3.3测试向量的产生 11

    264051.4测试覆盖率的提升 12

    801.5测试结果

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