CN202411706585.9-一种量子比特映射的校验方法及相关装置-发明公开.pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约2.22万字
  • 约 20页
  • 2026-06-04 发布于重庆
  • 举报

CN202411706585.9-一种量子比特映射的校验方法及相关装置-发明公开.pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN122133838A

(43)申请公布日2026.06.02

(21)申请号202411706585.9

(22)申请日2024.11.26

(71)申请人本源量子计算科技(合肥)股份有限

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档