CN119649885A 三维堆叠存储器的分层测试方法 （成都电科蓉芯科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119649885A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202510177771.6

(22)申请日2025.02.18

(71)申请人成都电科蓉芯科技有限公司

地址610000四川省成都市天府新区兴隆

街道湖畔路北段715号1号楼302室

(72)发明人彭磊叶锦宏张文远苟绍予

(74)专利代理机构成都人众惠承专利代理事务所(普通合伙)51372

专利代理师毛晨驹

(51)Int.Cl.

G11C29/06(2006.01)

G11C29/56(2006.01)

权利要求书2页说明书6页附图1页

(54)发明名称

三维堆叠存储器的分层测试方法

(57)摘要

CN119649885A本发明公开了三维堆叠存储器的分层测试方法，涉及了存储器测试技术领域，对三维堆叠存储器所在每一存储层进行初始化操作，根据存储层的结构类型，制定当前三维堆叠存储器的分层测试模式，对三维堆叠存储器的每一存储层进行测试，若检测到某一存储层出现存储异常，则标记其为待详检存储层，记录其存储位置以及存储类型，并进行待详检存储层的全域测试，若在全部存储层都未检测到存储异常，则结束测试，根据全域测试的测试结果，定位出三维堆叠存储器相应存储层的全部异常存储界域，并进行诊断