CN119654566A 用于测试被测设备、分离与被测设备的不同功能块相关联的或与一个或多个位的不同块相关联的所接收模式内的错误的装置、方法和计算机程序 （爱德万测试集团）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119654566A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202380057189.5

(22)申请日2023.06.06

(30)优先权数据62022.06.07EP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.01.26

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/EP2023/0651482023.06.06(87)PCT国际申请的公布数据

WO2023/237565EN2023.12.14

(74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201

专利代理师宋融冰

(51)Int.Cl.

G01R31/317(2006.01)

G01R31/3193(2006.01)

G01R31/3185(2006.01)

权利要求书4页说明书33页附图8页

(71)申请人爱德万测试集团地址日本东京

(72)发明人迈克尔·布劳恩弗兰克·亨塞尔阿恩特·杰拉赫

克劳斯·韦尔奇尼科·穆勒

乌尔里克·诺赫

(54)发明名称

用于测试被测设备、分离与被测设备的不同功能块相关联的或与一个或多个位的不同块相关联的所接收模式内的错误的装置、方法和计算机程序

(57)摘要

用于测试被测设备的测试装置(100；200；