CN119666869A 涂层缺陷检测方法、电子设备及存储介质 （河钢数字技术股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119666869A

(43)申请公布日2025.03.21

(21)申请号202510179980.4

(22)申请日2025.02.19

(71)申请人河钢数字技术股份有限公司

地址050000河北省石家庄市高新区中山

东路856号科技创新服务中心1号楼申请人雄安威赛博智能科技有限公司

河北沃享信息技术有限公司

(72)发明人葛春红郝亮明勇杰张帅

张丛灿储紫薇韩汝珩邢政

(74)专利代理机构河北国维致远知识产权代理

有限公司13137

专利代理师江康鑫

(51)Int.Cl.

G01N21/91(2006.01)

权利要求书2页说明书10页附图2页

(54)发明名称

涂层缺陷检测方法、电子设备及存储介质

(57)摘要

CN119666869A本发明提供一种涂层缺陷检测方法、电子设备及存储介质。该方法包括：将荧光粉末均匀混合于涂层粉末中，并将混合后的混合粉末熔覆于基体表面，形成待测涂层；对待测涂层进行逐点探测，得到待测涂层上每一探测点位对应的实测荧光光谱；根据各探测点位对应的实测荧光光谱和预设的标准荧光光谱，判断各探测点位是否为缺陷点位，以及缺陷点位的缺陷类型；若缺陷类型为表观质量缺陷，则确定缺陷点位对应的涂层质量缺失值，并基于涂