CN119672030A 针痕过滤检测方法、电子设备及存储介质 （苏州高视半导体技术有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119672030A

(43)申请公布日2025.03.21

(21)申请号202510195620.3

(22)申请日2025.02.21

(71)申请人苏州高视半导体技术有限公司

地址215153江苏省苏州市高新区嘉陵江

路198号11幢9层903室、904室

(72)发明人请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名

(74)专利代理机构北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙)11804

专利代理师顾皓辉

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T7/136(2017.01)

G06T7/12(2017.01)

G06V10/25(2022.01)

G06V10/28(2022.01)

权利要求书2页说明书9页附图6页

(54)发明名称

针痕过滤检测方法、电子设备及存储介质

(57)摘要

CN119672030A本申请公开了一种针痕过滤检测方法、电子设备及存储介质。该针痕过滤检测方法包括：获取待检测芯片的焊盘区域图像；基于焊盘区域图像确定初始二值图像；基于初始二值图像和噪声轮廓阈值确定目标二值图像；基于目标二值图像确定针痕分布图像集合；基于针痕分布图像集合确定每一待检针痕对应的单元格位置；基于针痕模板图像和每一待检针痕对