CN119354505A 一种光学元器件相位差的检测方法及简易检测装置 (宁波永新光学股份有限公司).pdfVIP

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  • 2026-06-08 发布于重庆
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CN119354505A 一种光学元器件相位差的检测方法及简易检测装置 (宁波永新光学股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119354505A

(43)申请公布日2025.01.24

(21)申请号202411911813.6

(22)申请日2024.12.24

(71)申请人宁波永新光学股份有限公司

地址315040浙江省宁波市高新区木槿路

169号

(72)发明人毛昊阳姬凌王志扬吕威

邱慧张子意

(74)专利代理机构宁波奥圣专利代理有限公司

33226

专利代理师程晓明

(51)Int.Cl.

G01M11/02(2006.01)

G01M11/04(2006.01)

权利要求书1页说明书3页

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