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CN119716173A 一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法 （南京银茂微电子制造有限公司）.docxVIP

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  • 2026-06-13 发布于山西
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CN119716173A 一种用于芯片的全自动探针测试设备及其方法 （南京银茂微电子制造有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119716173A

    (43)申请公布日2025.03.28

    (21)申请号202510229199.3

    (22)申请日2025.02.28

    (71)申请人南京银茂微电子制造有限公司

    地址211200江苏省南京市溧水区秀山路9

    号

    (72)发明人庄伟东

    (51)Int.Cl.

    G01R1/067(2006.01)

    G01R1/073(2006.01)

    G01R31/28(2006.01)

    G01R1/04(2006.01)

    权利要求书2页说明书5页附图11页

    (54)发明名称

    一种

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