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测控技术研发与制造手册

第1章测控系统总体设计与架构规划

1.1系统功能需求分析与指标定义

首先需明确测控系统的核心边界，包括输入端（如传感器阵列）、处理端（如FPGA或DSP核心）及输出端（如PLC或上位机），并界定数据流向，例如从前端模拟信号经ADC采样、数字滤波、特征提取，再经CAN总线传输至后端执行机构控制。依据工程规范设定关键性能指标（KPI），如数据采集延迟必须小于100ms，确保在高速运动控制中响应及时；系统吞吐量需支持每秒处理100万点以上的多通道数据；同时定义可靠度目标，要求关键部件在10万小时工作周期内故障率低于10^-6。

细