数字集成电路测试设计概述.pdf

大纲

❑测试–逻辑验证–硅调试–制

造测试❑故障模型❑可观测性和

制性❑为测试设计–扫描–

内建自测试

❑边界扫描

12:可测试性设计2

Outline

❑Testing

–LogicVerification

–SiliconDebug

–Manuf

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