CN119763640A 一种嵌入式存储芯片的质量评估方法 （成都职业技术学院）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119763640A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202510269963.X

(22)申请日2025.03.07

(71)申请人成都职业技术学院

地址610000四川省成都市高新区站华路

15号

(72)发明人李爱民

(74)专利代理机构北京佳通科创专利商标代理事务所(普通合伙)34140

专利代理师付彦爽

(51)Int.Cl.

G11C29/08(2006.01)

G06F18/213(2023.01)

G06F18/20(2023.01)

G06N20/00(2019.01)

权利要求书3页说明书19页附图3页

(54)发明名称

一种嵌入式存储芯片的质量评估方法

(57)摘要

CN119763640A本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种嵌入式存储芯片的质量评估方法。所述方法包括以下步骤：根据预选定的目标应用场景进行负载预测模型构建，得到负载预测模型；根据负载预测模型进行动态负载矩阵生成，得到动态负载矩阵；根据动态负载矩阵对待测存储芯片进行电气性能特征向量提取，得到电气性能特征向量；根据电气性能特征向量进行自适应测试条件调整，得到调整后负载参数；根据负载预测模型以及调整后负载参数对动态负载矩阵进行动态负载更新，得到更新动态负