CN119763643A 一种提高存储单元测试速度的方法及装置 （浙江力积存储科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119763643A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202510259428.6

(22)申请日2025.03.06

(71)申请人浙江力积存储科技有限公司

地址321035浙江省金华市金东区孝顺镇

正涵南街1088号13楼1302室

(72)发明人胡彬

(74)专利代理机构苏州石金知识产权代理事务所(普通合伙)32844

专利代理师张璐豪

(51)Int.Cl.

G11C29/18(2006.01)

G11C29/26(2006.01)

G11C29/00(2006.01)

权利要求书2页说明书5页附图3页

(54)发明名称

一种提高存储单元测试速度的方法及装置

(57)摘要

CN119763643A本发明提供的一种提高存储单元测试速度的方法，使用多阵列使能信号对存储芯片上存储阵列解码器的输出信号进行多阵列使能操作，激活所述存储阵列解码器生成的所有的阵列地址信号，激活后的阵列地址信号送入行地址解码器解码生成行地址选择信号并输入存储阵列中；以及激活后的所述阵列地址信号进入读/写命令存储阵列地址选择模块，生成读/写阵列地址信号，所述读/写阵列地址信号送入行列址解码器解码生成列地址选择信号并输入存储阵列中；存储阵列依据输入的行地址选择信号及列