CN119716475A 自动化芯片测试装置及自动化芯片测试方法 (深圳宏芯宇电子股份有限公司).pdfVIP

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  • 2026-06-26 发布于重庆
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CN119716475A 自动化芯片测试装置及自动化芯片测试方法 (深圳宏芯宇电子股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119716475A

(43)申请公布日2025.03.28

(21)申请号202411861638.4

(22)申请日2024.12.17

(71)申请人深圳宏芯宇电子股份有限公司

地址518031广东省深圳市福田区梅林街

道梅都社区中康路136号2栋2501

(72)发明人请求不公布姓名黄学楼刘春容

陈思桦

(74)专利代理机构北京同立钧成知识产权代理

有限公司11205

专利代理师马雯雯刘芳

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R1/04(2006.01)

G05B19/04(2006.01)

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