CN119805160A 一种芯片测试方法及芯片测试系统 （深圳市晶凯瑞电子有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119805160A

(43)申请公布日2025.04.11

(21)申请号202411910683.4

(22)申请日2024.12.24

(71)申请人深圳市晶凯瑞电子有限公司

地址518000广东省深圳市福田区华发南

路飞扬时代大厦A栋2502

(72)发明人卢苗

(74)专利代理机构深圳市紫荆创新专利代理事务所(普通合伙)441126

专利代理师成婵娟

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01N25/72(2006.01)

G01N21/88(2006.01)

G01N21/01(2006.01)

权利要求书3页说明书25页附图4页

(54)发明名称

一种芯片测试方法及芯片测试系统

(57)摘要

CN119805160A本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试方法及芯片测试系统。该方法包括以下步骤：获取芯片工作状态热成像图像；对所述芯片工作状态热成像图像进行全局色温偏移优化，并进行空间热量分布挖掘，从而构建芯片热量分布图；对芯片热量分布图进行多时刻热量分布追踪处理，并进行动态热量分布演变拟合，构建动态热量分布趋势演变图；获取待测试芯片高清图像；对待测试芯片高清图像进行芯片组件视觉监测，基于动态热量分布趋势演变图进行