TCASAS 064—2026《应用于SiC MOSFET功率器件动态测试回路杂感测试方法》.docxVIP

ICS31.080.01CCSL40

团体标准

T/CASAS064—2026

应用于SiCMOSFET功率器件动态测试回路

杂感测试方法

Testingmethodforparasiticinductanceofsiliconcarbidemetal

oxidesemiconductorfiledeffecttransistors(SiCMOSFET)andpower

loopindynamiccharacterization

2026-06-30发布2026-06-30实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

T/CASAS064—2026

I

目次

前言 II

引言 III

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义、缩略语 1

3.1术语和定义 1

3.2缩略语 1

4原理 1

4.1测试目的 1

4.2测试回路 1

4.3测试原理 2

5测试条件 3

6仪器设备 3

6.1电压探头 3

6.2电