CN119830816A 基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法 （中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）））.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119830816A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202510308756.0

(22)申请日2025.03.17

(71)申请人中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

地址511370广东省广州市增城区朱村街

朱村大道西78号

(72)发明人何玉娟章晓文戴宗倍高汭陈义强

(74)专利代理机构广州市华创源专利事务所有限公司44210

专利代理师邓利权

(51)Int.Cl.

G06F30/30(2020.01)

G06F17/16(2006.01)

G06F119/02(2020.01)

G06F119/04(2020.01)

G06F119/14(2020.01)

G06F119/16(2020.01)

权利要求书2页说明书8页附图1页

(54)发明名称

基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠

性评估方法

(57)摘要

CN119830816A本申请涉及汽车芯片技术领域，公开了一种基于多失效机理竞争失效的汽车芯片可靠性评估方法，该方法包括开展单失效机理评估试验得到加速因子及失效率、构建加速因子矩阵和失效率矩阵计算占比系数矩阵、构建多机理竞争失效矩阵计算综合失效