CN119885572A 产品可靠性分析方法、装置、电子设备及存储介质 （航天科工防御技术研究试验中心）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119885572A

(43)申请公布日2025.04.25

(21)申请号202411841089.4

(22)申请日2024.12.13

(71)申请人航天科工防御技术研究试验中心

地址100085北京市海淀区永定路50号

(72)发明人朱耀张安琪韩笑米思坤

(74)专利代理机构北京风雅颂专利代理有限公

司11403

专利代理师王聪聪

(51)Int.Cl.

G06F30/20(2020.01)

G06Q10/0639(2023.01)

G06F119/02(2020.01)

权利要求书2页说明书21页