CN119290973A 一种晶体缺陷检测分析方法及系统 (江西联创光电超导应用有限公司).pdfVIP

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  • 2026-07-07 发布于重庆
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CN119290973A 一种晶体缺陷检测分析方法及系统 (江西联创光电超导应用有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119290973A

(43)申请公布日2025.01.10

(21)申请号202411804105.2(51)Int.Cl.

G01N27/04(2006.01)

(22)申请日2024.12.10

G01N21/31(2006.01)

(71)申请人江西联创光电超导应用有限公司G01N23/207(2018.01)

地址330000江西省南昌市南昌高新技术G16C10/00(2019.01)

产业开发区京东大道168号科技大楼

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