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热电动势误差控制办法

热电动势误差控制办法

一（1）热电动势产生的物理机理与误差来源分析

热电动势误差在精密测量系统中主要表现为由于不同金属材料接触部位温度差异而产生的寄生电势，这种电势叠加在被测信号上会导致测量结果的偏移与失真。从物理本质来看，热电动势的产生基于塞贝克效应，即两种不同导体或半导体组成的闭合回路中，当两个接点处于不同温度时，回路中会产生电动势。在实际测量电路中，连接导线、接线端子、继电器触点、开关接点以及焊接点等部位都可能形成异种金属接触，这些接触点若处于不同的温度环境中，就会产生热电动势。特别需要注意的是，即使是非常微小的温度差，在低电平信号测量中也可能引发显著的误差