X线头影测量分析在正畸中的应用.pptxVIP

X线头影测量分析在正畸中的应用汇报人：口腔正畸科

X线头影测量的概念与发展X线头影测量是通过测量X线头颅定位片影像，对牙颌、颅面各标志点描绘线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织结构的技术1931年Broadbent与Hofrath首次提出头颅定位拍摄标准20世纪60年代初我国开始在口腔正畸临床应用70年代末计算机X线头影测量应用于临床与科研2015年被正式纳入《医学美学与美容医学名词》标准化术语使对牙颌、颅面的检查诊断由表面形态深入到内部骨骼结构

X线头影测量的六大核心应用27%↑根尖吸收风险增加30%↑牙周损伤风险增加研究颅面生长发育通过横向与纵向研究明确生长机制与快速生长期牙颌、颅