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材料分析表征技术期末考试试题（含答案）

适用专业：材料科学与工程、新能源材料、高分子材料等

考试时长：120分钟满分：100分

一、填空题（每空1分，共20分）

1.晶体X射线衍射的基本原理是________定律，其公式为________。

2.XRD测试中，2θ为衍射角，通过衍射峰位置可分析材料的________，衍射峰强度对应________，衍射峰半高宽可用于计算________。

3.扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察材料的________，配套的EDS能谱主要实现________分析。

4.透射电子显微镜（TEM）的成像信号主要为________和________，可实现材料微观形貌、晶格结构及缺陷表征。

5.傅里叶变换红外光谱（FTIR）主要用于检测材料中的________，判断高分子、无机官能团种类。

6.热重分析（TG）主要测试材料的________随温度的变化，DSC主要检测材料的________、结晶、熔融等热效应。

7.X射线光电子能谱（XPS）属于________分析技术，可分析材料表面元素组成、________及元素价态。

8.原子力显微镜（AFM）可测试材料表面的________、粗糙度、三维微观形貌，不依赖光学信号。

9.拉曼光谱基于________散射效应，适合分析碳材料、晶体结构、分子振动模式。

10.晶粒细化会导致XR