CN120103229A 高压连接器的测试方法、装置、设备及存储介质 （深圳市国威通电子技术有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120103229A

(43)申请公布日2025.06.06

(21)申请号202510587473.4

(22)申请日2025.05.08

(71)申请人深圳市国威通电子技术有限公司

地址518000广东省深圳市宝安区石岩街

道上屋社区坑尾大道40号H栋一层至

五层、B栋、K栋、J栋、G栋、F栋、C栋、N

栋、Q栋

(72)发明人杨昌伍

(51)Int.Cl.

G01R31/66(2020.01)

G01R31/00(2006.01)

权利要求书3页说明书16页附图2页

(54)发明名称

高压连接器的测试方法、装置、设备及存储

介质

(57)摘要

CN120103229A本发明涉及一种高压连接器的测试方法、装置、设备及存储介质，包括以下步骤，对所述高压连接器进行全方位扫描，得到连接器表面电磁场分布数据集；基于所述电磁场分布数据集对所述高压连接器进行介电强度测量，得到连接器介质击穿特性参数；对所述连接器介质击穿特性参数进行频域特性分析，得到连接器阻抗匹配特性曲线；基于所述阻抗匹配特性曲线对所述高压连接器进行热应力分析，得到连接器应力分布状态图；基于所述应力分布状态图对所述高压连接器进行可靠性分析，得到连接器寿命预测报告，解决现有方法在进行热应力分析时，多依赖于理想化的模型假