SJT 12013-2025 晶体硅光伏组件电致发光成像测试方法标准立项发展报告.docxVIP

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晶体硅光伏组件电致发光成像测试方法标准立项发展报告

英文标题

StandardizationDevelopmentReport:TestMethodforElectroluminescenceImagingofCrystallineSiliconPhotovoltaicModules

摘要

本报告基于电子行业标准SJ/T12013-2025《晶体硅光伏组件电致发光成像测试方法》的发布与实施，对该标准的立项背景、技术内容、行业影响及未来发展进行了系统性分析。随着全球能源转型加速，光伏产业高速发展，晶体硅光伏组件占据市场主导地位。电致发光（EL）成像技术作为检测光伏组件内部隐裂、碎片、虚焊、断栅等缺陷的关键无损检测手段，其测试方法的标准化对于提升组件质量、保障电站长期可靠运行至关重要。报告深入探讨了该标准相较于过往技术规范的改进与创新，尤其是在成像参数、缺陷分类、数据分析、结果判定及环境条件要求等方面的详细规定。研究指出，该标准的实施填补了我国在光伏组件整板EL成像测试领域系统化行业标准的空白，有效解决了行业内因测试方法不统一导致的质量判定争议。报告还重点介绍了标准的主要起草单位——中国电子技术标准化研究院在推动此标准过程中的核心作用及其技术贡献。结论部分展望了该标准将推动EL测试设备向智能化、自动化方向发展，并促进光伏产业链上下游质量协同控制，为我国光