SJT 12009-2025 集成电路蚀刻型引线框架标准立项发展报告.docxVIP

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  • 2026-07-22 发布于北京
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SJT 12009-2025 集成电路蚀刻型引线框架标准立项发展报告.docx

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集成电路蚀刻型引线框架标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:EtchedLeadframesforIntegratedCircuits

摘要

关键词

集成电路封装;蚀刻型引线框架;行业标准;技术规范;精密蚀刻;电子材料

Keywords:IntegratedCircuit(IC)Packaging;EtchedLeadframe;IndustryStandard;TechnicalSpecification;PrecisionEtching;ElectronicMaterials

正文

一、引言

集成电路(IC)作为现代电子信息产业的核心,其性能、可靠性及成本在很大程度上取决于封装技术。引线框架作为连接芯片与外部电路的关键结构件,承担着机械支撑、电气连接和散热通道等多重功能。随着5G通信、人工智能、物联网、汽车电子等新兴领域对芯片高速度、高密度、高可靠性需求的爆发式增长,集成电路封装技术已从传统的单芯片封装(如SOT、QFP)向多芯片封装(MCM)、系统级封装(SiP)等先进封装演进。在此背景下,对引线框架的引脚数量、间距精度、厚度控制及形状复杂度的要求达到了前所未有的高度。

传统的冲压型引线框架受限于模具制造精度和冲压工艺极限,在面对0.5mm以下窄间距、多

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