CN119205780A 基于多源测试融合的芯片引线键合可靠性检测方法及系统 (四川中科微芯电子有限公司).pdfVIP

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  • 2026-07-27 发布于重庆
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CN119205780A 基于多源测试融合的芯片引线键合可靠性检测方法及系统 (四川中科微芯电子有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119205780A

(43)申请公布日2024.12.27

(21)申请号202411721773.9G06N3/08(2023.01)

G06N5/04(2023.01)

(22)申请日2024.11.28

(71)申请人四川中科微芯电子有限公司

地址610000四川省成都市高新区天辰路

88号1幢1单元1楼103-109号

(72)发明人赵宗勤章鸿贤

(74)专利代理机构成都贞元会专知识产权代理

有限公司51390

专利代理师肖会

(51)Int.Cl.

G06T

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