基于量子纠错码的量子存储可靠性增强系统设计与逻辑比特编码.docxVIP

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  • 2026-08-04 发布于湖北
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基于量子纠错码的量子存储可靠性增强系统设计与逻辑比特编码.docx

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基于量子纠错码的量子存储可靠性增强系统设计与逻辑比特编码

摘要

量子存储是实现量子计算与量子通信的核心基础,然而量子比特极易因环境退相干而丢失信息,严重制约了量子信息处理的可扩展性。本课题以提升量子存储的可靠性与相干时间为目标,设计了一套基于量子纠错码的逻辑比特编码与存储增强系统。系统采用拓扑表面码作为核心纠错方案,利用冗余物理量子比特构建逻辑比特,通过错误症状测量与解码恢复来对抗退相干噪声。全文遵循“需求分析→总体设计→详细设计→实现→测试”的工程递进思路:第一章分析量子存储退相干的核心痛点与纠错码的引入动机;第二章阐述表面码、稳定子码等关键技术并进行技术选型;第三章从功能与非功能角度明确系统需求;第四章给出系统总体架构与模块划分;第五章深入设计了编码电路、错误症状提取与解码算法;第六章基于Qiskit模拟器实现了编码与纠错流程并展示运行效果;第七章通过功能测试与性能测试验证了系统延长相干时间的有效性;第八章总结成果并展望未来优化方向。设计的核心创新点在于将表面码的距离参数与存储可靠性建立量化映射,并通过仿真验证了在物理错误率低于阈值时,逻辑比特的相干时间随码距增大而指数延长的理论预期,为量子存储的工程实现提供了可参考的设计范式。

关键词:量子存储;量子纠错码;表面码;逻辑比特;退相干;相干时间;错误症状测量

第一章绪论

1.1研究背景

量子信息技术正从理论

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