半导体芯片封装测试设计报告
目录TOC\o1-4\z\u
一、项目概述 3
二、工艺范围定义 4
三、产品输入要求 6
四、设计约束条件 9
五、材料选型原则 16
六、封装结构方案 20
七、测试方案总览 22
八、关键参数定义 24
九、设备配置方案 26
十、工装治具设计 28
十一、洁净与环境控制 32
十二、静电防护设计 34
十三、质量控制策略 36
十四、失效分析方法 37
十五、过程监控机制 41
十六、数据采集要求 42
十七、异常处理流程 45
十八、人员岗位配置 47
十九、作业规
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