YST 543-2025 半导体键合用铝-1%硅细丝标准立项发展报告.docx

YST 543-2025 半导体键合用铝-1%硅细丝标准立项发展报告.docx

半导体键合用铝-1%硅细丝标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Aluminum-1%SiliconFineWireforSemiconductorBonding

摘要

关键词:半导体键合;铝-1%硅细丝;行业标准;有色金属;封装材料;标准化

一、引言

1.1标准立项背景

半导体键合技术是半导体封装制造中的核心工序之一,其作用是通过键合丝实现芯片与引线框架或基板之间的电气互连。键合丝作为该工序的关键耗材,其质量直接决定了封装器件的可靠性、电性能和热性能。在功率半导体器件、微波器件及部分集成电路封装中,铝-1%硅细丝凭借其抗拉强度

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档