《透明导电膜 透射衍射性能测试方法》.pptxVIP

透明导电膜透射衍射性能测试方法

1范围

本文件描述了透明导电膜对波长范围400nm～1100nm的透射衍射性能测试的术语和定义、一般要求、试样制备及状态调节、试验方法、结果计算和表示、测试报告。

本文件适用于用后焦面成像法和远场衍射空间分离法对非均质导电层透明导电膜透射衍射性能的测试。其它透明导电膜材料可参考使用。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T2410塑料透明塑料透光率和雾度的测定

GB/T2918塑料试样状态调节和试验的标准环境

GB/T7247.1激光产品的安全第1部分：设备分类和要求

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

非均质导电膜heterogeneousconductivefilm

导电层在微观或介观尺度上具有非均匀结构。如，周期性或非周期性图案、网格、孔洞、颗粒分布不均等的透明导电膜。

3.2

后焦面成像backfocalplaneimaging

在光学系统的后焦面（即傅里叶变换面）直接记录光场，直观显示试样的透射衍射光斑的分布情况，获取试样衍射图像的空间分布信息。后焦面成像法可一次获取零级及各级衍射光的完整