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扫描电镜面试题目及答案

一、基础理论与原理（共20分）

1.扫描电子显微镜（SEM）与透射电子显微镜（TEM）在成像原理和样品要求上最本质的区别是什么？

A.TEM利用透射电子成像，SEM利用反射电子成像；TEM样品需超薄，SEM样品需导电

B.TEM利用反射电子成像，SEM利用透射电子成像；TEM样品需超薄，SEM样品需导电

C.TEM利用透射电子成像，SEM利用反射电子成像；TEM样品需导电，SEM样品需超薄

D.TEM利用反射电子成像，SEM利用透射电子成像；TEM样品需导电，SEM样品需超薄

答案：A

2.扫描电镜中常用的电子枪类型不包括以下哪一种？

A.铇灯丝电子枪

B.六硼化镧（LaB6）电子枪

C.场发射电子枪

D.光电倍增管

答案：D

3.在扫描电镜成像中，二次电子（SE）信号主要反映样品的什么特征？

A.表面形貌特征

B.内部晶体结构

C.元素成分分布

D.晶格缺陷

答案：A

4.背散射电子（BSE）信号主要受样品的什么因素影响？

A.样品表面的平整度

B.样品的原子序数

C.电子束的加速电压

D.样品的导电性

答案：B

5.扫描电镜的分辨率主要取决于什么？

A.电子束的直径

B.样品的厚度

C.探针电流的大小

D.放大倍数

答案：A

二、样品制备与操作（共30分）

1.为什么非导电样品在扫描电镜下观察时通常