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基于CdS-Ge异质结光电探测器的单像素成像方法研究

关键词：CdS/Ge异质结；光电探测器；单像素成像；成像质量；仿真验证

第一章绪论

1.1研究背景与意义

随着生物医学技术的飞速发展，对高灵敏度、高分辨率的成像设备需求日益增长。传统的成像技术如X射线成像、CT扫描等虽然具有广泛的应用，但存在着辐射剂量大、成本高昂等问题。因此，发展低剂量、高效率的成像技术成为了研究的热点。光电探测器作为成像系统中的关键组件，其性能直接影响到成像质量。CdS/Ge异质结光电探测器因其独特的光电转换特性和优异的性能指标，成为近年来研究的热点之一。

1.2CdS/Ge异质结光电探测器概述

CdS/Ge异质结光电探测器是一种利用半导体材料界面效应实现光信号转换的器件。它结合了CdS和Ge两种材料的优异性质，能够在可见光到近红外波段内实现高效的光电转换，同时具有良好的稳定性和较低的噪声水平。CdS/Ge异质结光电探测器在太阳能电池、光催化等领域展现出巨大的应用潜力。

1.3单像素成像技术简介

单像素成像技术是一种将多个像素点集成在一个传感器上的成像方式，通过单个像素点的独立测量来实现高分辨率的成像。与传统的多像素成像相比，单像素成像具有更高的空间分辨率和更低的系统噪声，因此在医学成像、卫星遥感等领域具有重要的应用价值。

1.4研究内容与创新点

本研究围绕基于CdS/Ge异质结光电探测器的单像素成