粒子辐射对电信系统及设备的影响 第5部分：应用软错误测量的电信系统设计方法标准化发展研究报告.docxVIP

粒子辐射对电信系统及设备的影响第5部分：应用软错误测量的电信系统设计方法标准化发展报告

Keywords:ParticleRadiation;SoftError;TelecommunicationSystem;DesignMethodology;Standardization;ElectromagneticCompatibility;ReliabilityDesign;RadiationHardening

摘要

一、引言1.1研究背景粒子辐射引发的软错误问题源于半导体器件在宇宙射线中子、大气中子以及封装材料中α粒子等电离粒子入射时，导致存储单元或逻辑电路发生非破坏性的状态翻转（SingleEventUpset,SEU）。随着集成电路工艺制程从微米级向纳米级持续演进，器件特征尺寸不断缩小、工作电压持续降低、节点电容日益减小，单个粒子入射所沉积的电荷量已足以引发器件逻辑状态的改变，使得电信系统对粒子辐射的敏感度呈指数级上升趋势。据国际半导体技术路线图（ITRS）及相关研究机构统计，在地面海拔条件下，商用先进制程芯片的软错误率（SoftErrorRate,SER）已从此前的每百万小时不足一次上升至每千小时数次甚至更高水平。对于电信系统而言，软错误可能导致数据传输误码、交换系统信令异常、网络设备控制面故障等严重后果，直接影响电信服务的