IECTS 62607-6-26-2025 纳米制造——关键控制特性——第6-26部分：石墨烯相关产品——断裂应变和应力、杨氏模量、残余应变和残余应力：鼓胀试验 标准立项发展报告.docxVIP

纳米制造——关键控制特性——第6-26部分：石墨烯相关产品——断裂应变和应力、杨氏模量、残余应变和残余应力：鼓胀试验标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Nanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-26:Graphene-relatedproducts-Fracturestrainandstress,Youngsmodulus,residualstrainandresidualstress:bulgetest

摘要

石墨烯作为最具代表性的二维纳米材料，其力学性能的准确表征是推动其在柔性电子、复合材料及微纳机电系统等领域规模化应用的关键前提。然而，石墨烯力学性能测试长期面临样品转移损伤大、测试方法分散、数据可比性差等突出问题。在此背景下，国际电工委员会（IEC）于2025年12月10日正式发布IEC/TS62607-6-26-2025《纳米制造——关键控制特性——第6-26部分：石墨烯相关产品——断裂应变和应力、杨氏模量、残余应变和残余应力：鼓胀试验》。该技术规范由IEC/TC113（纳米电工产品和系统技术委员会）组织制定，系统规定了基于鼓胀试验原理测试悬空石墨烯薄膜面内力学性能的方法与流程。本报告全面梳理了该标准的立项背景、