IEC 62951-82023 半导体器件.柔性和可拉伸半导体器件.第8部分柔性电阻存储器的可拉伸性、柔性和稳定性的试验方法标准立项发展报告.docxVIP

半导体器件柔性和可拉伸半导体器件第8部分：柔性电阻存储器的可拉伸性、柔性和稳定性的试验方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Flexibleandstretchablesemiconductordevices-Part8:Testmethodforstretchability,flexibility,andstabilityofflexibleresistivememory

摘要

柔性电子技术作为新一代信息技术的重要发展方向，正在推动半导体产业从刚性形态向柔性与可拉伸形态的革命性跨越。柔性电阻存储器作为柔性电子系统的核心组件之一，其在弯曲、拉伸等复杂力学条件下的电学性能保持能力与可靠性，直接决定了柔性集成电路、可穿戴设备、植入式医疗电子等新兴应用场景的产业化进程。然而，由于缺乏统一的国际试验标准，各研发机构与制造企业在柔性存储器性能评价方法上各行其是，导致测试结果难以横向比对，严重制约了技术交流与市场准入。在此背景下，国际电工委员会（IEC）于2023年1月正式发布IEC62951-8:2023《半导体器件柔性和可拉伸半导体器件第8部分：柔性电阻存储器的可拉伸性、柔性和稳定性的试验方法》。该标准隶属于IEC62951系列，系统规定