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2026年电镜分析笔试题及答案

一、填空题（每题2分，共20分）

1.在透射电子显微镜中，电子束穿过样品后，通过________和________系统进行成像。

2.扫描电子显微镜（SEM）主要通过________原理来获得样品表面形貌的图像。

3.透射电子显微镜（TEM）的分辨率极限主要由________效应限制。

4.在电镜样品制备过程中，对于生物样品通常采用________技术来减少电子束对样品的损伤。

5.电子束与样品相互作用产生的二次电子信号主要用于SEM中获取________信息。

6.在透射电子显微镜中，________是用于提高成像分辨率的关键部件。

7.扫描电子显微镜（SEM）中，________是控制样品表面成像分辨率的主要参数。

8.透射电子显微镜（TEM）中，________技术可以用来提高样品的电子穿透能力。

9.在电镜样品制备过程中，________技术可以用来减少样品的表面吸附和污染。

10.电子束与样品相互作用产生的背散射电子信号主要用于SEM中获取________信息。

二、判断题（每题2分，共20分）

1.透射电子显微镜（TEM）的分辨率比扫描电子显微镜（SEM）更高。（对）

2.扫描电子显微镜（SEM）主要用于观察样品的表面形貌。（对）

3.透射电子显微镜（TEM）需要将样品制备成非常薄的切片才能进行观察。（对）