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GAL综合能力测试考试题（含详细答案）

考试说明：本次考试满分100分，考试时长90分钟，题型包含选择题、填空题、简答题、论述题，答题需书写规范、逻辑清晰，结合基础理论与实际应用作答。

一、单项选择题（共15题，每题2分，共30分）

1.GAL器件的核心工作原理是基于（）实现逻辑函数搭建

A.固定与或阵列B.可编程与阵列、固定或阵列C.可编程或阵列、固定与阵列D.全可编程与或阵列

2.相较于传统PAL器件，GAL最核心的优势是（）

A.运算速度更快B.可反复擦写编程C.引脚数量更多D.功耗更低

3.GAL器件中OLMC模块的中文名称是（）

A.输出逻辑宏单元B.输入缓冲单元C.可编程阵列单元D.时钟控制单元

4.GAL器件正常工作时，输入信号首先经过的模块是（）

A.OLMCB.输入缓冲器C.与阵列D.或阵列

5.下列关于GAL编程的说法，正确的是（）

A.只能一次性编程写入B.可多次编程、反复修改逻辑C.编程后无法擦除D.无需专用编程设备

6.GAL器件能够实现时序逻辑电路的核心原因是（）

A.内置触发器结构B.阵列容量更大C.支持多输入信号D.工作电压范围更广

7.GAL16V8器件中，数字16代表的含义是（）

A.