《小角X射线散射（SAXS）测定多孔和颗粒体系的比表面积》.docxVIP

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小角X射线散射（SAXS）测定多孔和颗粒体系的比表面积

1范围

本文件规定了通过小角X射线散射（SAXS）测定比表面积的方法，能获得1m2/g至2000m2/g的质量比表面积和0.01m2/cm3至1000m2/cm3的体积比表面积。

本方法适用于稀体系和浓体系。

注1：ISO17867:2020中通过SAXS测定粒径仅限于稀体系。

SAXS测定比表面积仅适用于两相体系，多相体系的比表面积测定不在本文件范围内。

“表面”指任意不同密度（更准确地说，电子密度）区域之间的界面，不仅限于颗粒的外表面。由于该方法能检测任意具有电子密度差异的界面，因此可适用于任意非均相体系。

SAXS不仅能测量开孔的比表面积，还能测量不可达的闭孔或包裹体的比表面积。

注2：这与ISO9277:2010中描述的气体吸附方法不同。

除多孔体系外，任何致密固体非均相体系中，只要存在电子密度差异，其内部界面都可能对比表面积测量有贡献，如晶相与非晶相之间的界面。尽管含微孔（孔径＜2nm）的材料也能通过SAXS分析比表面积，但本文件不涵盖此类材料。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

纳米孔nanopore

宽度不超过100nm的孔。

[来源：ISO15901