SJT 12037-2025 人工智能芯片 云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告.docx

人工智能芯片云侧训练用深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:TestMetricsandTestMethodsforCloud-SideTrainingDeepLearningChipsofArtificialIntelligenceChips

摘要

随着人工智能技术的迅猛发展，云侧训练用深度学习芯片作为支撑大规模模型训练的核心硬件基础设施，其性能评估与测试的标准化需求日益迫切。当前，国内外人工智能芯片市场呈现多元化竞争格局，各厂商在算力指标、能效比、