ISO 17297-2025 微束分析 透射电镜样品制备中聚焦离子束的应用 词汇 标准立项发展报告.docxVIP

微束分析透射电镜样品制备中聚焦离子束的应用词汇标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:MicrobeamAnalysis—FocusedIonBeamApplicationforTEMSpecimenPreparation—Vocabulary

摘要

微束分析技术作为材料科学、纳米技术和生命科学等领域不可或缺的表征手段，其标准化工作对促进国际技术交流与产业协同发展具有重要意义。ISO17297-2025《微束分析透射电镜样品制备中聚焦离子束的应用词汇》是国际标准化组织于2025年正式发布的现行标准，旨在统一聚焦离子束（FIB）技术在透射电镜（TEM）样品制备领域的专业术语与定义。本报告系统梳理了该标准的立项背景、编制过程、主要内容框架及其在微束分析标准体系中的定位。报告详细阐述了FIB制样技术从实验室研究到工业化应用的发展脉络，分析了术语标准化对消除技术交流障碍、规范行业实践、推动技术创新等方面的关键作用。同时，报告介绍了主要参与修订单位的标准化工作贡献，并对该标准未来的推广应用和体系完善提出了展望。本报告适合微束分析领域技术人员、标准化工作者及行业管理人员参考阅读。

关键词：微束分析；聚焦离子束；透射电镜；样品制备；术语标准；标准化；ISO17297

Keywords:Microbeama