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光计算矩阵乘法精度试验规范

1范围

本规范规定了光计算矩阵乘法精度试验的术语定义、试验环境要求、试验样本准备、试验流程、精度指标计算方法、数据处理规则以及试验报告要求，适用于基于空间光调制器、硅基光子芯片、微纳光子结构等各类硬件实现的光计算矩阵乘法系统的精度性能测试与评估，可作为产品研发、性能标定、第三方检测的参考依据。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件；凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2900.1电工术语基本术语GB/T38654光子集成芯片通用技术规范JJF1059.1测量不确定度评定与表示

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1光计算矩阵乘法

利用光的传播、干涉、衍射等物理效应，在光域内完成矩阵与向量相乘或矩阵与矩阵相乘运算的计算模式，具有高并行度、低延迟、低功耗的特性。

3.2理想计算结果

在相同输入条件下，采用IEEE754标准双精度浮点数完成的矩阵乘法运算结果，作为精度评估的基准值。

3.3元素级相对误差

光计算输出矩阵中单个元素的测量值与理想值之间的相对差值，用于表征单个运算点的精度水平。

3.4全局均方误差

光计算输出矩阵所有元素与理想值差值的平方和的均值，用于表征系统整体的精度表现。

3.5动态范围

光计