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JEDECJESD22-A117中文版非易失存储器擦写耐久与数据保持应力测试

标准概述与行业背景

JEDECJESD22-A117E-2018《ElectricallyErasableProgrammableROM(EEPROM)Program/EraseEnduranceandDataRetentionStressTest》，属于JESD22器件可靠性测试方法系列，JC-14.3非易失存储器委员会编制。标准最初面向EEPROM，也广泛用于NORFlash、嵌入式非易失存储器件，规定编程-擦除耐久（P/EEndurance）、断电数据保持（DataRetention）、交叉温度读写整套应力测试流程与操作规范。

擦写耐久考核存储单元在反复编程擦除循环下的退化；数据保持考核器件断电之后，浮栅/电荷俘获单元电荷流失，数据能够维持完整的能力；二者是非易失存储器两大核心可靠性指标。该标准不直接定义鉴定参数阈值，鉴定样本数量、循环次数、烘烤时长需要引用JESD47集成电路鉴定规范；也支持JESD94基于失效物理的知识驱动鉴定方式。

边界区分：

JESD22-A117侧重芯片级器件P/E耐久与数据保持应力试验方法；SSD系统级耐久使用JESD218、JESD219，二者不可互相替代。

本标准主要针对浮栅型EEPROM、NOR-Flash；新型存储（M