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半导体DFT可测试性设计考核试卷

一、单项选择题（每题1分，共30题）

1.DFT设计的主要目的是什么？

A.提高芯片性能

B.增加芯片功能

C.提高芯片的可测试性

D.降低芯片成本

2.在DFT设计中，哪一项不是常见的测试方法？

A.内建自测试（BIST）

B.扫描链测试

C.边界扫描测试

D.软件仿真测试

3.测试覆盖率是DFT设计中的哪个关键指标？

A.芯片功耗

B.芯片速度

C.测试路径覆盖率

D.芯片面积

4.哪种测试方法适用于大规模集成电路？

A.逻辑扫描测试

B.模拟测试

C.频率响应测试

D.静态测试

5.在DFT设计中，哪一项技术可以用于检测电路中的故障？

A.仿真技术

B.