IEC 62037-8：2022 无源射频和微波器件 互调电平测量.第8部分暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量标准立项发展报告.docxVIP

无源射频和微波器件互调电平测量第8部分：暴露于射频辐射的物体产生的无源互调的测量标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:PassiveRFandMicrowaveDevices,IntermodulationLevelMeasurement–Part8:MeasurementofPassiveIntermodulationGeneratedbyObjectsExposedtoRFRadiation

摘要

随着无线通信系统向高频段、大功率、高集成度方向快速发展，无源互调（PassiveIntermodulation,PIM）已成为制约通信系统性能的关键因素之一。在实际射频环境中，不仅天线、连接器、滤波器等无源器件会产生互调产物，暴露于射频辐射中的各类物体（如金属结构件、建筑材料、紧固件等）同样可能因非线性效应生成无源互调信号，对系统接收灵敏度造成干扰。国际电工委员会（IEC）于2022年11月正式发布IEC62037-8:2022标准，作为IEC62037系列标准的重要组成部分，专门针对暴露于射频辐射的物体所产生的无源互调提供了标准化的测量方法与技术规范。本报告系统梳理了该标准的立项背景、技术框架、核心内容及应用价值，分析了该标准在国际标准体系中的定位与协调关系，阐述了其主要参与