IEC 60747-18-4:2023 半导体器件.第18-4部分半导体生物传感器.无透镜CMOS光子阵列传感器噪声特性的评估方法标准立项发展报告.docxVIP

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  • 2026-10-22 发布于山东
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IEC 60747-18-4:2023 半导体器件.第18-4部分半导体生物传感器.无透镜CMOS光子阵列传感器噪声特性的评估方法标准立项发展报告.docx

半导体器件第18-4部分:半导体生物传感器无透镜CMOS光子阵列传感器噪声特性的评估方法标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:Semiconductordevices-Part18-4:Semiconductorbiosensors-Evaluationmethodofnoisecharacteristicsoflens-freeCMOSphotonicarraysensors

摘要

随着生物医学检测技术向微型化、集成化和低成本方向快速发展,无透镜CMOS光子阵列传感器作为半导体生物传感器的重要分支,在全息成像、细胞计数、病原体检测等领域展现出广阔的应用前景。然而,该类传感器在实际应用中面临噪声特性复杂、评估方法不统一等技术瓶颈,严重制约了产品性能比对、质量控制和产业化推广。在此背景下,国际电工委员会(IEC)于2023年3月正式发布了IEC60747-18-4:2023标准,针对无透镜CMOS光子阵列传感器的噪声特性建立了系统化的评估方法体系。该标准由IEC半导体器件技术委员会(TC47)下属相关分技术委员会组织制定,归属于半导体分立器件分类体系。标准主要规定了噪声特性的术语定义、测试条件、测量程序、数据处理方法及评估报告要求,适用于无透镜CMOS光子

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